JB T 10030-2012 光栅线位移测量装置.docxVIP

ICS 17.040.30 J 42 备案号：36491—2012 中 华 人 民 共 和 国 机 械 行 业 标 准 JB/T 10030—2012 代替JB/T 10030— 1999 光栅线位移测量装置 Grating linear displacement measuring device 2012-05-24发布 2 0 1 2 - 1 1 - 0 1 实 施 中华人民共和国工业和信息化部发布 I JB/T 10030—2012 目 次 前言 Ⅲ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 要求 2 4.1 基本参数 2 4.2 准确度 2 4.3 重复精度 3 4.4 基本功能 3 4.5 外观及相互作用 3 4.6 防护等级(IP) 3 4.7 抗干扰能力 4 4.8 稳定度 4 5 电气安全性能 4 5.1 接地保护 4 5.2 绝缘电阻 5 5.3 耐电压强度 5 6 环境适应性 5 6.1 气候环境 5 6.2 力学环境 5 6.3 周围环境 5 6.4 电 源 5 7 连续运行试验 5 8 试验与检验方法 6 8.1 试验与检验条件 6 8.2 试验与检验项目及方法 6 9 检验规则 7 9.1 出厂检验 7 9.2 型式检验 7 9.3 判定规则 8 10 标志与包装 8 10.1 标志 8 10.2 包装 8 附录A(规范性附录)检验项目及重要度 9 表1基本参数 2 表2准确度等级 3 表3重复精度参数 3 表4抗快速瞬变电脉冲群试验等级 4 ⅡI JB/T 10030—2012 表5抗电压冲击试验等级 4 表6抗电压暂降、短时中断试验等级 4 表7气候环境 5 表8机械振动(正弦)条件 5 表9冲击试验条件 5 表10连续运行试验条件 6 表A.1检验项目重要度 9 Ⅲ JB/T 10030—2012 前 言 本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。 本标准代替JB/T 10030—1999《光栅线位移测量系统》,与JB/T 10030—1999相比主要技术变化如下： ——增加并更新了“规范性引用文件”的内容(本版的第2章，1999年版的第2章); ——修改了“术语和定义”的内容(本版的第3章，1999年版的第3章); ——增加了“基本参数”的内容(本版的4.1,1999年版的第4章); ——增加了“准确度”指标(本版的4.2); ——增加了“防护等级”指标(本版的4.6); ——修改了“抗干扰能力”的内容(本版的4.7,1999年版的5.8); ——取消了“MTBF”项(1999年版的5.6); ——增加了“连续运行试验”指标(本版的第7章); ——修改了“试验方法”的内容(本版的第8章，1999年版的第6章); ——修改了“检验规则”的内容(本版的第9章，1999年版的第7章); ——增加了“判定规则”指标(本版的9.3); ——修改了“标志与包装”的内容(本版的第10章，1999年版的第8章); ——修改了部分文字的叙述。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归口。 本标准负责起草单位：广州市诺信数字测控设备有限公司。 本标准参加起草单位：苏州怡信光电科技有限公司、贵阳新豪光电有限公司、广东万濠精密仪器股 份有限公司、长春光机数显技术有限责任公司、中国计量科学研究院、廊坊开发区莱格光电仪器有限公 司。 本标准主要起草人：潘伟华、沈烈、陆庆年、刘广黔、巫孟良、王罡、张恒、史淑华。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： ——ZB J42036— 1989; ——JB/T 10030— 1999。 JB/T 10030—2012 光栅线位移测量装置 1 范围 本标准规定了光栅线位移测量装置的术语和定义、要求、电气安全性能、环境适应性、连续运行试 验、试验与检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于机床、仪器等的坐标线位移检测与测量的光栅线位移传感器和光栅数字显示仪表相连 组成光栅线位移测量装置(以下简称“测量装置”)。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 191—2008