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CPK 培训教材 一.Cpk的定义 某一制程在一定因素与正常管制状态下的质量作业能力. 二.Cpk的影响因素 制程要因---原料,机器设备,人员能力,测量仪器. 制程条件---常态分配,统计管制状态. 三.Cpk的计算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸 Average:测量数据的平均值 σ:标准差,其公式为: σ= Cpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl) σ:其大小表示测量数据的离散程度, σ越小表示数据的离散程度越小,反之则数据的离散程度越大. Cpu:其值表示测量数据偏离上限的程度, Cpu越大表示测量数据偏离上限较远; 反之则数据靠近上限. Cpl: 其值表示测量数据偏离下限的程度, Cpl越大表示测量数据偏离下限较远; 反之则数据靠近下限. 四.Cpk的等级 A: 1.33≦Cpk A级,制程能力满足图纸要求,生产中几乎没有不良品产生. B: 1.00≦Cpk1.33 B级, 制程能力基本满足图纸要求,生产中约有0.27%不良品产生,必须加以注意,并设法维持不使其变坏. C: Cpk1.00 C级, 制程能力不能满足图纸要求, 生产中可能有较多不良品产生, 应采取紧急措施,全面检讨所有可能影响的因素,必要时得停止生产. 五.Cpk 管制抽样的基本原则 区 分 重要尺寸 次要尺寸 Cpk值 管制方法 取样频率 管制方法 取样频率 1.00以下 检验 全检 检验 全检 1.00~1.33 管制图 高 管制图 中 1.33~1.66 管制图 中 查检表 中 查检表 高 1.66~2.00 管制图 低 查检表 低 查检表 中 大于2.00 视情形需要 管制方法 取样频率 管制图 查检表 高 1--2小时 15--30分钟 中 4--8小时 每小时 低 每班次 2小时 六.CPK数据分析. 1.数据均分布于中值两旁, Cpk值一般大于1.33,见附图１. 2.数据离散地分布中值两旁,Cpk值一般小于1.33,见附图２. 3.数据分布离散度小,但偏中值不远,Cpk值大于1.33,见附图３. 4.数据分布离散度小,但偏中值较远,Cpk值小于1.33. 见附图４. 5.数据绝大多数虽均分布于中值两旁,但个别超差,将大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1.33,见附图５. 七,Cpk的提高. 1.减小σ,即增强设备的稳定性,增加夹具夹紧定位的可靠性,提高刀具切削的稳定性 2.精心调整,使数据均布于中值两旁. 3.加强监控,当数据偏离中值较远时,要及时调机,不必等到超差时再调机. 八.CP制程精确度. CP=Ｔ/6σ. T:尺寸公差值 CP:其值表示制程的精确程度, CP越大制程精确程度越高,反之则制程精确程度越低. CP的分级: A : 1.33≦CP B : 1.00≦CP1.33 C : 0.83≦CP1.00 D : CP0.83 CP等级的处置 Ａ级:此一工程甚为稳定,可以将规格容许差缩小或胜任更精密的工作. Ｂ级:有发生不良品之危险,必须加以注意,并设法维持不要使其变坏及迅速追查. Ｃ级:检讨规格及作业标准,可能本工程不能胜任这么精密的工作. Ｄ级:应采取紧急措施,全面检讨所有可能影响的因素,必要时得停止生产. 九 . 制程精密(ＣＰ值)与不良率的关系 -５δ-４δ-３δ -５δ -４δ -３δ -２δ -１δ ０ +１δ +２ +３ +４ +５ +６ -５δ -６δ ０ 68.26%95.46%99.73% 68.26% 95.46% 99.73% 99.9937% 99.999943 99.9999998% 制程精密度(CP值)与不良率的关系如下: CP值 规格公差(T) 不良率(规格以外比率) 单边规格 变边规格 0.33 2δ(±δ) 15.87% 31.74% 0.67 4δ(±δ) 2.27% 4.54% 1.00