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一种X射线源的扫查式限束准直机构.pdfVIP

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  • 2023-01-21 发布于北京
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一种X射线源的扫查式限束准直机构.pdf

    本实用新型涉及X射线拍摄设备领域，尤其涉及一种X射线源的扫查式限束准直机构及其扫查控制方法。本实用新型采用如下技术方案：包括扫查准直块、扫查向限制块和扫查驱动装置；扫查准直块由扫查驱动装置驱动沿第一扫查限制块朝向第二扫查限制块的方向贴着扫查向限制块的上表面移动。本实用新型的优点在于：通过驱动中间具有单位光野通道的扫查准直块沿中间设置有效光野开口的扫查向限制块上表面进行移动扫查，同时配合横向限制块，使散射的X射线被扫查准直块、扫查向限制块和横向限制块上被屏蔽吸收，从而降低环境瞬时辐射剂量和总辐射剂

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212281385 U (45)授权公告日 2021.01.05 (21)申请号 202020446290.3 (22)申请日 2020.03.31 (73)专利权人 汕头市超声仪器研究所股份有限

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