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材料分析方法第九章其他显微分析方法简介 * * * * * * * * * * * * * * * * * * （1）、接触式 AFM中样品表面形貌图象通常是采用这种排斥力模式获得的。 针尖始终同样品接触并在表面滑动，针尖－样品间的相互作用力是两者互相接触的原子中电子间存在的库仑排斥力，其大小通常为10－8～10－11 N。 接触式通常可产生稳定、高分辨图象，但对于低弹性模量样品，针尖的移动以及针尖－表面间的粘附力有可能使样品产生相当大的变形并对针尖产生较大的损害，从而在图象数据中可能产生假象。 （2）、非接触式 针尖在样品表面的上方振动，始终不与样品表面 接触，针尖探测器检测的是范德华吸引力和静电力等对成象样品没有破坏的长程作用力； 非接触模式可增加显微镜的灵敏度，但分辨率要比接触模式低，且实际操作比较困难。 （3）、轻敲式 是介于接触式和非接触式之间新发展起来的成象技术。 在扫描过程中微悬臂是振荡的并具有较大的振幅，针尖在振荡时间断地与样品接触； 由于针 尖同样品接触，其分辨率通常几乎与接触式一样好，但因为接触是非常短暂的，剪切力引起的破坏几乎完全消失。 目前，轻敲模式已经应用到液体成象。 3、AFM的应用 原子力显微镜对所分析样品的导电性无要求，应用： ① 可研究样品在几十到几百nm尺度的表面结构特征。 ② 可进行原子分辨率(或分子分辨率)下晶体材料层状结构特征研究。 ③ 利