基于环状磁约束技术的击穿光谱检测系统.pdfVIP

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  • 2023-02-03 发布于四川
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基于环状磁约束技术的击穿光谱检测系统.pdf

本实用新型提供了一种基于环状磁约束技术的击穿光谱检测系统,所述系统包括激光发射机构、环状磁场机构、检测机构、信号采集机构和计算机;所述检测机构包括用于放置被测样品的置物台,所述环状磁场机构包括环绕所述置物台设置的N极大磁铁、S极大磁铁、第一N极小磁铁、第二N极小磁铁、第一S极小磁铁和第二S极小磁铁;本实用新型将激光诱导击穿光谱技术与环状磁场约束组合测量具有更高的灵敏度和准确度,本实用新型采用的是环状磁场,为激光诱导击穿光谱技术的谱线增强方法提供了新的思路,在该领域具有广阔的应用前景。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212341016 U (45)授权公告日 2021.01.12 (21)申请号 202021838913.8 (22)申请日 2020.08.28 (73)专利权人 河北大学 地址 0

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