一种用于集成光电子器件表面缺陷检测装置.pdfVIP

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2023-02-04 发布于四川
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一种用于集成光电子器件表面缺陷检测装置.pdf

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本实用新型公开了一种用于集成光电子器件表面缺陷检测装置，涉及集成光电子器件技术领域。该用于集成光电子器件表面缺陷检测装置，包括底座，所述底座的上方设置有顶板，底座的顶部焊接安装有导向杆，底座的顶部焊接安装有连接座，连接座和导向杆远离底座的一端和顶板固定连接，连接座的内部开设有第一滑槽，连接座的内部滑动安装有第一滑块，连接座的一侧开设有开口，顶板的下方设置有连接板，连接板横向贯穿开口并和第一滑块固定连接，连接板的底部通过电器元件焊接安装有照明灯，连接座的一侧设置有升降机构。本实用新型结构简单，便于

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212364111 U (45)授权公告日 2021.01.15 (21)申请号 202020483039.4 (22)申请日 2020.04.03 (73)专利权人昆山加勒瑞智能科技有限公司