一种带校正组件的测试结构.pdfVIP

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  • 2023-02-05 发布于四川
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本实用新型提供一种带校正组件的测试结构,安装底板、测试片组A、测试片组B、校正组件、定位座安装板、定位座、测试片组A定位板、测试片组B定位板;所述校正组件包括支架、爪座A、校正爪A、爪座B、校正爪B、连接轴A、连接轴B、导向轴;所述安装底板的下表面固定设置有限位块,所述限位块与所述定位座对应的位置设置有顶针。本实用新型的有益效果是:通过设置校正组件,确保三极管测试时的位置正确,在确保测试精准度的前提下,确保测试的质量。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212364487 U (45)授权公告日 2021.01.15 (21)申请号 202020932080.5 (22)申请日 2020.05.28 (73)专利权人 中之半导体科技(东莞)有限公司

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