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一种集成电路测试用偏压测试装置.pdfVIP

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  • 2023-02-07 发布于四川
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一种集成电路测试用偏压测试装置.pdf

    本实用新型公开了一种集成电路测试用偏压测试装置，涉及集成电路的测试设备领域，包括放置台，所述放置台的外侧分布有用于对集成电路进行测试的测试机构。本实用新型通过设置测试机构，在对集成电路进行测试时可先将需测试的集成电路放置在放置槽的内侧，以此来对集成电路板进行限位，之后工作人员可通过观察机构来对集成电路板上的测试点进行观看，随后移动探针，在此过程中可通过移动导向杆来对探针的左右方向进行调节，之后可通过转盘的转动来对探针的前后方向进行调节，如此便可将探针的一端放置在测试点处，此时扭力弹簧复原，如此便

    (19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218445564 U (45)授权公告日 2023.02.03 (21)申请号 202222511157.3 (22)申请日 2022.09.22 (73)专利权人 深圳明嘉瑞科技有限公司 地址 5

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