一种射频发射机杂散辐射测试系统.pdfVIP

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  • 2023-02-10 发布于四川
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本实用新型提供一种射频发射机杂散辐射测试系统,是一种近场测试系统,测试场为微波暗室;伺服系统为安装在微波暗室内的一轴精密转台,待测射频发射机的天线设置在精密转台上;射频分系统包括矢量网络分析仪,所述的矢量网络分析仪利用测试探头接收待测射频发射机天线的辐射信号完成待测射频发射机天线幅相参数测试。本实用新型是利用一轴转台配合探头阵列实现电磁场的球面近场采样。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212433285 U (45)授权公告日 2021.01.29 (21)申请号 202021432353.6 (22)申请日 2020.07.20 (73)专利权人 广东圣大电子有限公司

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