用于半导体材料测试的四探针测试仪.pdfVIP

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2023-02-10 发布于四川
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用于半导体材料测试的四探针测试仪.pdf

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本实用新型提供一种用于半导体材料测试的四探针测试仪。所述用于半导体材料测试的四探针测试仪包括：检测仪放置台，所述放置台固定安装在检测仪的顶部；检测台，所述检测台转动安装在放置台的顶部；升降器，所述升降器固定安装爱放置台上；探测仪，所述探测仪固定安装在升降器上；第一转动槽，所述第一转动槽开设在放置台的一侧；内螺纹管，所述内螺纹管转动安装在第一转动槽内，所述内螺纹管的一端延伸至第一转动槽外；调节轮，所述调节轮固定安装在内螺纹管的一端；滑槽，所述滑槽开设在第一转动槽的一侧内壁上。本实用新型提供的用于半

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212433224 U (45)授权公告日 2021.01.29 (21)申请号 202020891669.5 (22)申请日 2020.05.25 (73)专利权人自贡国晶科技有限公司