一种芯片测试装置.pdfVIP

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2023-02-14 发布于四川
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一种芯片测试装置.pdf

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本实用新型实施例公开了一种芯片测试装置，通过设置导框远离PCB板的表面包括凹陷结构，凹陷结构用于放置待测试芯片；凹陷结构的底面包括多个第一过孔，测试针头可拆卸地固定穿设在第一过孔中；使得在测试针头损坏或者需要采用不同类型的测试针头对待测芯片进行测试时，测试针头可以方便地从导框上拆卸下来，进而方便测试针头的更换。并且，多个测试针头中包括第一测试针头和第二测试针头，第一测试针头与PCB板上的第一射频信号线电连接，第二测试针头与PCB板上的第二射频信号线电连接，进而可以实现对待测芯片的性能测试。并且，

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212514903 U (45)授权公告日 2021.02.09 (21)申请号 202021741054.0 (22)申请日 2020.08.19 (73)专利权人上海捷策创电子科技有限公司