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一种带限位结构的芯片测试装置.pdfVIP

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  • 2023-02-16 发布于四川
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一种带限位结构的芯片测试装置.pdf

    本实用新型属于芯片测试设备领域，尤其是一种带限位结构的芯片测试装置，针对现有的芯片测试前不能对芯片进行限位，无法将芯片进行前后左右进行移动，同时芯片和探针的位置对准后，不能对探针的高度进行调节的问题，现提出如下方案，其包括底座和依次位于底座上方的前后移动架、左右移动架以及夹持架，所述前后移动架内设有进行前后移动的前后移动组件，本实用新型中，通过第二丝杆和第一丝杆的转动，可以对夹持架上方的芯片进行移动，操作起来非常便捷，同时探针的高度进行调节，当探针的高度进行抬升时，便于两个夹持垫板对芯片进行夹持

    (19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218481561 U (45)授权公告日 2023.02.14 (21)申请号 202222885594.1 (22)申请日 2022.10.31 (73)专利权人 深圳市易赛贝尔科技有限公司 地址

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