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一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路.pdfVIP

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  • 2023-02-18 发布于四川
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一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路.pdf

    本发明属于电路低功耗测试领域，公开了一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路，包括若干个扫描链电路和若干个门控时钟模块，每个所述扫描链电路包括若干个扫描寄存器，每个扫描链电路中的下一级扫描寄存器的扫描输入端SI连接上一级寄存器的扫描输出端SO；每个扫描链均匀划分为若干段，同一段中的每个扫描寄存器时钟端均连接同一个门控时钟模块，通过该门控时钟模块来控制其连接的扫描寄存器的开启或关闭，实现降低电路整体信号翻转数量，从而降低测试功耗；同时，设计了一种控制链，用来给门控时钟模块的门控信号赋值，从而大大

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115469214 A (43)申请公布日 2022.12.13 (21)申请号 202211342979.1 (22)申请日 2022.10.31 (71)申请人 南京邮电大学 地址 210023

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