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一种用于IC芯片的测试装置.pdfVIP

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  • 2023-02-20 发布于四川
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一种用于IC芯片的测试装置.pdf

    本实用新型公开了一种用于IC芯片的测试装置，包括测试仪主体，所述测试仪主体的上表面固定安装有上盖壳，所述测试仪主体的前表面设置有测试槽，所述测试槽的表面活动安装有固定杆，所述测试仪主体的前表面位于测试槽的一侧设置有操作按键，所述测试槽的表面活动安装有计数机构。本实用新型所述的一种用于IC芯片的测试装置，能够省去人工点数的繁琐，有利于统计IC芯片的测试量和考核工作人员工作量，还能够调节测试仪主体与工作台面的高度，适应不同身高的操作人员进行测试，缓解操作人员长时间低头测试而颈部酸痛的问题，且测试仪主

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212722968 U (45)授权公告日 2021.03.16 (21)申请号 202021092159.8 (22)申请日 2020.06.14 (73)专利权人 深圳市佰泰盛世科技有限公司

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