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一种晶体晶振的电性能参数测试设备.pdfVIP

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  • 2023-02-21 发布于四川
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一种晶体晶振的电性能参数测试设备.pdf

    本实用新型提供了一种晶体晶振的电性能参数测试设备，包括从上至下依次设置的上机架、工作大板、下机架，工作大板的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘的弹夹组件，两个弹夹组件的后方均设有用以移动晶体料盘的放料组件，放料组件的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件，两个弹夹组件之间设有用以测试电性能参数的测试组件。本实用新型所述的晶体晶振的电性能参数测试设备可以实现晶体的取料、放料、移动、测试、识别、排列的一体化测试设备，自动化程度高，操作方便。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212749108 U (45)授权公告日 2021.03.19 (21)申请号 202021550245.9 (22)申请日 2020.07.30 (73)专利权人 天津必利优科技发展有限公司

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