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- 2023-02-23 发布于北京
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本发明提供一种偏光片光学性能测量系统，其特征在于：沿光路方向依次设置有光源、准直镜、退偏器、起偏器、聚光镜和光电探测器，其中，光源为白色LED或者其他多光谱光源；所述准直镜用于将光源的发散光转为平行光；所述退偏器将射入其内的光过滤成完全非偏振光；所述起偏器为标准偏光片，设置于旋转平台上，可在旋转电机的带动下旋转任意角度；所述聚光镜用于汇聚光线；所述光电探测器用于收集光能量技术参数。使用该系统可一次性检测多项偏光片的光学技术参数，而且测量快速，精度高，操作简单，方便实用。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 212807567 U
(45)授权公告日 2021.03.26
(21)申请号 202021566925.X
(22)申请日 2020.07.31
(73)专利权人 深圳精创视觉科技有限公司
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