一种芯片测试座组件.pdfVIP

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2023-03-03 发布于四川
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本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其是一种芯片测试座组件，包括芯片测试座，所述芯片测试座的顶部固定连接有竖筒，所述竖筒的内壁间隙配合有芯片，所述竖筒的上方设有横板。通过芯片测试座、芯片、竖筒、直板、螺栓、竖块、块体、圆杆、横板和推动结构的配合，弹簧一带动竖杆向下移动，竖杆带动推板向下移动，推板将芯片压紧，使位于底部的芯片可以与芯片测试座相接触，进而可以对底部的芯片进行测试，测试完成后，向右推动推杆，推杆将底部的芯片从芯片测试座的一侧上方开口处推出，弹簧二带动推杆向左移动恢复原位，推板将芯片继续向

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218546944 U (45)授权公告日 2023.02.28 (21)申请号 202222809856.6 (22)申请日 2022.10.25 (73)专利权人苏州恩斯贝电子科技有限公司地址