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- 2023-03-05 发布于北京
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本实用新型公开了一种纳米中间膜计量仪，属于纳米中间膜计量领域。一种纳米中间膜计量仪，包括支撑板，所述支撑板上固定连接有膜框,所述膜框内滑动连接有测量板和整平机构，所述测量板和整平机构两端均固定连接有轴承，所述轴承外壁套接有轴套，所述膜框两侧上开设有第一滑槽，所述轴套滑动连接在第一滑槽内，所述支撑板上固定连接有四组支撑杆，四组所述支撑杆上固定连接有顶板，所述顶板底部固定连接有固定板,所述固定板上设置有凹槽，所述凹槽滑动连接有伸缩杆；本实用新型使用简单，裁剪尺寸准确，同时对中间膜进行整平和固定，防止
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213197677 U
(45)授权公告日 2021.05.14
(21)申请号 202021907146.1
(22)申请日 2020.09.04
(73)专利权人 南京金士威纳米科技有限公司
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