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一种用于半导体器件的测试座.pdfVIP

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  • 2023-03-05 发布于北京
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一种用于半导体器件的测试座.pdf

    本实用新型涉及一种用于半导体器件的测试座，包括测试座主体，在所述测试座主体内开有容置腔，容置腔内放置有测试组件；测试座主体的上方设有定位盖板；定位盖板上开有产品检测区域；测试座主体下方依次设有PCB板、定位板和托块；定位盖板、测试组件、测试座主体、PCB板、定位板和托块经由紧固件上下紧固相连，本实用新型增强了产品的限位定位关系，测试片与芯片管脚的接触性以及测试片与PCB的接触的定位精度，提高可靠性；C字形测试件增强了与产品的接触保护产品被划伤的风险，增强测试片的寿命和测试性能，并且增加吹气装置保

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213240398 U (45)授权公告日 2021.05.18 (21)申请号 202021054248.3 (22)申请日 2020.06.10 (73)专利权人 苏州朗之睿电子科技有限公司

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