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- 2023-03-05 发布于北京
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本实用新型公开一种外延结构及应用其的半导体芯片,该外延结构包括依次层叠设置的量子阱结构、P型接触层以及电极层;P型接触层包括呈台阶状设置的第一台阶部与第二台阶部,第二台阶部相对第一台阶部更靠近量子阱结构;第一台阶部与第二台阶部填充有第一绝缘部。通过上述方式,可以有效提高半导体芯片的抗灾变性光学镜面损伤值。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213212654 U
(45)授权公告日 2021.05.14
(21)申请号 202021705512.5
(22)申请日 2020.08.13
(73)专利权人 深圳市中光工业技术研究院
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