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- 2023-03-05 发布于北京
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本实用新型实施例提供一种芯片测试平台，包括：调节机构，所述调节机构包括：旋转马达和方向调节滑台，所述方向调节滑台安装在所述旋转马达上；两个相对设置的测试机构，一个所述测试机构安装在所述旋转马达上，另一个所述测试机构安装在所述方向调节滑台上；两个制冷机构，两个所述制冷机构分别安装在两个所述测试机构上。本实用新型实施例提供的芯片测试平台，通过设置方向调节滑台，克服了人工安装芯片测试平台时，两个测试机构之间存在位置偏差的问题，实现了对测试机构的精准微调，能够有效地将两个测试机构通过手动微调调节至一个圆
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213212141 U
(45)授权公告日 2021.05.14
(21)申请号 202022187364.9
(22)申请日 2020.09.29
(73)专利权人 武汉锐科光纤激光技术股份有限
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