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可延长使用寿命耐磨损的测试针.pdfVIP

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  • 2023-03-05 发布于北京
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可延长使用寿命耐磨损的测试针.pdf

    本实用新型公开一种可延长使用寿命耐磨损的测试针，主要应用领域为电子产品ICT测试、功能测试、大功率测试针、PCB测试、半导体(IC)测试；应用方式包括以针床的方式对电子产品及半导体进行功能测试。本实用新型包括针体和针管，所述针体包括针头、针杆和针托，所述针管设置有弹簧，所述针托插接在该针管内，所述针管内径为1.1mm～1.2mm，所述针杆直径为0.80mm～0.88mm；所述针托形状包括圆柱状，该针托的底边与针托两侧边分别形成一个圆形角。本实用新型提供一种不易断裂，使用时间长久，耐磨损，导电性能

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213210242 U (45)授权公告日 2021.05.14 (21)申请号 202022243488.4 (22)申请日 2020.10.10 (73)专利权人 深圳市中硅电子有限公司

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