一种集成电路测试用多功能测试台.pdfVIP

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2023-03-06 发布于四川
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本实用新型公开了一种集成电路测试用多功能测试台，包括底座，所述底座上设有收缩测试结构；所述收缩测试结构包括：收缩箱体、剪叉升降台、四个滑轨、测试箱体、测试组件、箱体盖、铰座以及支撑腿，本实用新型涉及集成电路测试技术领域，本案采用的收缩测试结构，通过内置的剪叉升降台可实现对测试箱体的高度调节的目的，且在不进行测试时，还具有收纳功能，减少占用空间，通过内置的测试组件，可将测试板以及测试插孔收纳进测试箱体内，在不使用时可有效地保护测试插孔不受到破坏，从而有效的解决了现有的测试台不具有高度调节功能，对于

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213275856 U (45)授权公告日 2021.05.25 (21)申请号 202021758402.5 (22)申请日 2020.08.21 (73)专利权人镇江矽佳测试技术有限公司