原创力文档- 1
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- 2023-03-10 发布于北京
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本实用新型公开了一种翘曲度测量装置。所述翘曲度测量装置包括基座、承载机构及测量机构。所述承载机构包括第一支架及测量平台。所述测量平台上形成有第一通孔。所述第一支架的两端分别与所述测量平台及所述基座螺纹连接，并在所述测量平台与所述基座之间形成一安装区域。所述测量机构包括测量部和从所述测量部伸出的探针，所述测量部架设于所述安装区域内，且使得所述探针的第一端伸出所述第一通孔。如此，无需将待测模块倒置，即可实现低成本且简易测量的目的。本实用新型测量稳定、成本较低且操作简单。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213422079 U
(45)授权公告日 2021.06.11
(21)申请号 202022303087.3
(22)申请日 2020.10.15
(73)专利权人 深圳基本半导体有限公司
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