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- 2023-03-11 发布于四川
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本实用新型公开了一种半导体芯片精密测试装置,包括底座,所述底座的一侧底部位置固定安装有安装座,所述安装座的上表面开设有安装孔,所述底座的上表面中心位置开设有测试槽,所述底座的上部位于测试槽的外侧设有龙门架,所述龙门架的顶部居中位置贯穿有丝杆,所述丝杆的底端通过轴套转动连接有压模板,所述压模板的上部固定安装有滑杆。本实用新型所述的一种半导体芯片精密测试装置,能够让测试PCB板和针脚座对半导体芯片的针脚施加压力,提高针脚座与半导体芯片针脚的接触效果,保证测试结果的精准性,同时也龙门架采用滑动的方式,
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213457255 U
(45)授权公告日 2021.06.15
(21)申请号 202022670942.4
(22)申请日 2020.11.18
(73)专利权人 深圳市康博思精密设备有限公司
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