一种半导体制冷器性能测试装置.pdfVIP

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2023-03-15 发布于四川
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一种半导体制冷器性能测试装置.pdf

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本实用新型涉及测试设备技术领域，更具体地说，它涉及一种半导体制冷器性能测试装置，包括底座，所述底座安装有壳体，所述壳体与所述底座构成用于测试的密闭空间，所述底座安装有放置台和压紧块，所述压紧块靠近和远离所述放置台运动，所述放置台靠近所述压紧块一侧设有用于抵接配合所述测试样品放热面的第一接触面，所述压紧块靠近所述放置台一侧设有用于抵接配合所述测试样品制冷面的第二接触面；所述底座设有真空孔，所述真空孔一端连通所述密闭空间另一端通过管路连接有真空泵，所述放置台内安装有制冷装置，所述压紧块内安装有加热装

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213600367 U (45)授权公告日 2021.07.02 (21)申请号 202022670671.2 (22)申请日 2020.11.18 (73)专利权人秦皇岛富连京电子股份有限公司