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一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置.pdfVIP

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  • 2023-03-29 发布于四川
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一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置.pdf

    本实用新型提供一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置，属于电子测试技术领域，以解决现有的高温高湿测试装置一般是在封闭的腔室内进行试验，在使用过程中，反复升温降温需要消耗大量的能量，造成了极大的浪费的问题，包括测试机主体；所述测试机主体的顶部内侧固定连接有一组工件输送驱动件；所述测试机主体的中部转动连接有一组转位旋转轴；所述测试机主体的内部圆周阵列排布滑动连接有四对封闭分隔门。本实用新型通过设置操作、试验腔、缓冲腔，分别实现对电子元器件的装卸、升温、试验、降温等，大大降低了在使用中试验腔中的温度和

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214011094 U (45)授权公告日 2021.08.20 (21)申请号 202023104984.8 (22)申请日 2020.12.22 (73)专利权人 森诺检测认证技术服务（深圳）有

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