原创力文档- 1
- 0
- 约6.14千字
- 约 7页
- 2023-03-29 发布于四川
- 举报
本实用新型提供了一种集成电路芯片电源干扰测试系统，所述测试系统包括干扰波形发生器、计算机、智能卡测试仪、测试夹具和待测芯片，其中，干扰波形发生器具有输出端，待测芯片具有电源端，计算机连接智能卡测试仪，智能卡测试仪连接测试夹具，干扰波形发生器连接测试夹具，待测芯片连接测试夹具，干扰波形发生器的输出端直接连接待测芯片的电源端。待测芯片进行测试时，由于在待测芯片的电源端连续加入电压±3V的脉冲波干扰信号，经过N遍的顺次擦操作、写操作、读操作后，撤除脉冲波干扰信号，直接通过智能卡测试仪确认待测芯片工作状
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 214011427 U
(45)授权公告日 2021.08.20
(21)申请号 202022797110.9
(22)申请日 2020.11.27
(73)专利权人 紫光同芯微电子有限公司
文档评论（0）