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- 2023-03-29 发布于四川
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本实用新型属于芯片测试技术领域,尤其是一种基于8位MCU的芯片专用测试系统,现提出以下方案,包括包括测试系统总线和8位MCU芯片,所述测试系统总线包含逻辑总线和模拟总线;逻辑总线包含8位数据总线(DATA_BUS),4位地址总线(ADDR_BUS)功能控制CTRL0和CTRL1,中断信号INT0和INT1,以及定时器信号TIMER0和TIME1;模拟总线包含双通道ADC输入信号AD1P、AD1N和AD2P、AD2N,参考电压VREF,稳压源9V,5V,3.3V及VCC_ADJ。本实用新型本系统提
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 214041654 U
(45)授权公告日 2021.08.24
(21)申请号 202023101632.7
(22)申请日 2020.12.22
(73)专利权人 无锡芯明圆微电子有限公司
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