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一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置.pdfVIP

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  • 2023-03-29 发布于四川
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一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置.pdf

    本实用新型提供一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置，包括箱体结构；所述箱体结构上铰接安装有护板结构；所述箱体结构内部开设有内箱结构；所述箱体结构顶部卡接安装有四组干燥结构；护板结构还包括有门板、观测窗，门板上开设有四组观测窗，每组观测窗均采用加厚的钢化玻璃安装，门板内侧面的靠边沿位置设置有密封条，铰接安装的门板为检测设备的主要防护结构，而现有的检测设备的门窗上只设置有一组观测窗，单一的观测窗无法良好的对内部进行观测，将门板上开设四组观测窗，使得门板在关闭之后具有更加良好的观测目的，且观测窗采用

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214011017 U (45)授权公告日 2021.08.20 (21)申请号 202023101061.7 (22)申请日 2020.12.22 (73)专利权人 森诺检测认证技术服务（深圳）有

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