一种不易造成损伤的半导体测试用治具.pdfVIP

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2023-03-30 发布于四川
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一种不易造成损伤的半导体测试用治具.pdf

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本实用新型公开了一种不易造成损伤的半导体测试用治具，包括基座、载板、金属网板、顶板、连杆和弹簧，所述基座正面靠近底端位置通过阻尼铰链活动连接底板，所述底板表面中间位置插接有离子风机，所述基座正面位置对称粘接有橡胶垫，所述橡胶垫内部中间位置固定连接夹板，所述夹板上下两侧均固定连接橡胶条，所述顶板下表面对称安装抗压组件。本实用新型通过外接电源向离子风机供电，产生的离子风对金属网板进行静电消除作业，防止静电的干扰，一旦有障碍物靠近，橡胶垫首先与其接触，橡胶垫发生形变，第一空腔内部的橡胶条也随之发生形变

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214067200 U (45)授权公告日 2021.08.27 (21)申请号 202022128323.2 (22)申请日 2020.09.25 (73)专利权人西安和光明宸科技有限公司