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一种用于元器件测试的高频测试装置.pdfVIP

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  • 2023-04-04 发布于四川
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一种用于元器件测试的高频测试装置.pdf

    本实用新型提供一种用于元器件测试的高频测试装置，其包括测试板、固定件、微带线以及金属弹片，固定件为长方体结构，固定件固定在测试板上，金属弹片借助于固定件固定在测试板上形成金属探测针，金属弹片设置有两个；两个金属弹片的第一端部借助于固定件固定在微带线上，微带线固定在测试板上，两个金属弹片的第二个端部能够相对于测试板压下或弹起，与两个金属弹片的第二端部相对于的测试板的位置固定有待测物品，当两个金属弹片的第二端压下时，两个金属弹片的第二端与待测物品接触。其利用弹片结构代替传统的导电胶结构，具有较高的强

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214097577 U (45)授权公告日 2021.08.31 (21)申请号 202120111813.3 (22)申请日 2021.01.15 (73)专利权人 深圳飞特尔科技有限公司

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