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一种半导体测试设备.pdfVIP

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  • 2023-04-04 发布于四川
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一种半导体测试设备.pdf

    本实用新型公开了一种半导体测试设备，其结构包括，机箱、箱壁开关、箱盖，工作台、玻璃窗、警报灯、配电箱、电线、传电轴、开关按钮、显示屏、控制面板，机箱右侧设有箱壁开关，箱盖设于工作台的外边并将其进行覆盖，玻璃窗设于箱盖的中间位置，警报灯设于机箱的上端，配电箱设于机箱的下方，电线设于配电箱的上端，传电轴通过电线与配电箱相连接并进行电力配合，本实用新型通过吸尘器、灰尘箱和工作台伸缩杆的相互配合，使要测试半导体成品的时候工作台能够将成品升到吸尘器的入口，使成品能够被吸尘器进行吸收然后利用阻挡布使半导体不

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214122390 U (45)授权公告日 2021.09.03 (21)申请号 202022272998.4 (22)申请日 2020.10.13 (73)专利权人 颜伟雄 地址 51

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