一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机.pdfVIP

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  • 2023-04-04 发布于四川
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一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机.pdf

本实用新型公开了一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机,涉及电子元件技术领域。本实用新型包括基板和测试箱,测试箱位于基板上表面,测试箱内部设置有冷测试仓和热测试仓,冷测试仓与热测试仓之间设置有真空层,真空层内部设置有保温板,冷测试仓内表面安装有制冷机构,冷测试仓内部设置有隔冷板,制冷机构输出端安装有导冷管,冷测试仓一侧面设置有若干散冷槽,热测试仓内表面安装有制热机构,热测试仓内部设置有隔热板。本实用新型通过设置冷测试仓、热测试仓、真空层和保温板,使该装置的制冷机构和制热机构温度不受彼此影响,不易出

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214097225 U (45)授权公告日 2021.08.31 (21)申请号 202023101665.1 (22)申请日 2020.12.22 (73)专利权人 森诺检测认证技术服务(深圳)有

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