多个内存芯片同时测试的测试装置.pdfVIP

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  • 2023-04-06 发布于四川
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本实用新型属于内存芯片技术领域,具体涉及多个内存芯片同时测试的测试装置,包括底座和测试用主板,所述底座的上表面安装有测试用主板,所述底座的左端焊接有导向架,且导向架的右侧通过活动机构安装有定位座,且定位座的上端焊接有把手,所述定位座的下端开设有安装槽,且安装槽的右端开设有通孔,所述通孔内横向插设有连接杆,且连接杆的右端设置有把柄,所述连接杆的左端固定焊接有限位板。该多个内存芯片同时测试的测试装置通过设置安装槽来码放多个内存芯片,并在码放时,利用横向抽拉把柄来带动限位板在安装槽内进行横向移动,通过

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215417542 U (45)授权公告日 2022.01.04 (21)申请号 202122154897.1 (22)申请日 2021.09.07 (73)专利权人 深圳市汇申电子科技有限公司

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