原创力文档- 1
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- 2023-04-09 发布于四川
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本实用新型公开了一种基于量子弱测量放大的晶体温度测量装置，将双折射晶体温度变化转变为相位变化，再通过极小相位放大从而实现对温度的测量。此方法结合光学干涉与量子弱测量，以简单的结构实现了高精度高分辨度的温度测量；与传统的测温方法相比，省去了复杂的电学架构。本实用新型在军事国防、工程工业等各种需高精度温度测量的领域均可广泛使用。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 215492130 U
(45)授权公告日 2022.01.11
(21)申请号 202121359000.2
(22)申请日 2021.06.18
(73)专利权人 中国科学技术大学
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