X线头影测量分析.pdfVIP

X线头影测量分析 D 各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横 向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不 同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向 研究。由于X线头颅照像是严格定位的，因而 系列的X线头颅片具有可靠的可比性。Brodi e1941年以X线头影测量，对出生后3个月至 8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所 得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应 用。Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发 育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。 林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国 儿童的颅面生长发育作了横向研究。林久祥、 张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿 童的颅面生长发育。通过颅面生长发育的X线 头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快 速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生长 发育的预测。 2 牙颌、颅面畸形的诊断分析：通过X线 头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可 了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性 畸形抑或牙 合性畸形，使对畸形能作出正确 的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅 面软硬组织各部分间的相互关系。而对于牙 颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通 过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析， 得出正常合人各项测量的参考标准，并应用到 对畸形的诊断分析中去。