一种光芯片的测试装置.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约8.2千字
  • 约 8页
  • 2023-04-14 发布于四川
  • 举报
本实用新型的实施例公开了一种光芯片的测试装置,每个所述光芯片具有光耦合单元,所述测试装置包括:激光器,其用于发射特定波长的激光束;保偏光纤,其具有彼此相背离的输入端和输出端,所述输入端与所述激光器连接以接收所述激光束;保偏光纤阵列,其具有并列设置的至少两条光纤通道,其中,第一光纤通道与所述保偏光纤连接,该第一光纤通道接收由保偏光纤输出的所述激光束并引导至所述光耦合单元,第二光纤通道通过光耦合单元接收经过光芯片传输的所述激光束;光功率计,其连接到所述第二光纤通道以接收所述激光束并检测所述激光束的光

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215640059 U (45)授权公告日 2022.01.25 (21)申请号 202123106997.3 (22)申请日 2021.12.13 (73)专利权人 上海曦智科技有限公司

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档