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- 2023-04-15 发布于北京
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本实用新型公开了一种具有过零检测功能的电路,主要解决现有过零检测电路集成芯片的整体尺寸偏大,光耦易损坏过的问题。该电路包括与交流输入端相连的降压网络,与降压网络相连的整流滤波电路和保护电路,与整流滤波电路和保护电路相连的输入比较电路,以及与输入比较电路相连的光耦隔离电路。通过上述设计,本实用新型采用电容组成降压网络的方式实现降压,不需要变压器降压,这样能够有效减小整个电路集成到芯片上的尺寸。同时通过保护电路的限流和过压保护结合运放比较的高阻性,避免光耦直接与高压电网接触,提高光耦的使用寿命。因此
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 215728410 U
(45)授权公告日 2022.02.01
(21)申请号 202121451099.9
(22)申请日 2021.06.29
(73)专利权人 成都华立达信息技术有限公司
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