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本发明公开了X/γ射线探测器无源效率刻度的数值计算方法，包括如下步骤：步骤S1，确定放射源信息，步骤S2，确定探测器信息，步骤S3，将晶体网格化；步骤S4，计算入射光子逃逸概率；步骤S5，计算入射光子电子对效应产生的逃逸概率和一次散射光子逃逸概率；步骤S6，计算一次散射光子电子对效应产生的逃逸概率和二次散射光子逃逸概率；步骤S7，计算三次散射光子逃逸概率；步骤S8，计算全能峰效率。本发明提出的全能峰效率计算方法，可以对任意凸面体形状探测晶体的全能峰效率进行计算，没有探测晶体形状、尺寸、材质、密度
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115840243 A
(43)申请公布日 2023.03.24
(21)申请号 202211674393.5
(22)申请日 2022.12.26
(71)申请人 成都理工大学
地址 610051
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