一种半导体电学性能测试装置.pdfVIP

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  • 2023-04-15 发布于四川
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一种半导体电学性能测试装置,属于半导体性能测试技术领域,该测试装置,包括定位卡盘及其周向设置的多个导向夹紧装置,定位卡盘上吸附定位有晶圆,导向夹紧装置包括夹紧杆,多个夹紧杆弹性夹紧晶圆的外侧后形成接触电极,晶圆上方一段距离处设置探针,本实用新型的有益效果是,该测试装置结构简单、操作方便,兼容多种半导体晶圆尺寸,适用于含导电及绝缘衬底的半导体,可避免接触半导体表面,减少了半导体表面沾污,提高了良率。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215728597 U (45)授权公告日 2022.02.01 (21)申请号 202121882807.4 (22)申请日 2021.08.12 (73)专利权人 芜湖启迪半导体有限公司

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