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一种半导体双面同时检测的机构.pdfVIP

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  • 2023-04-16 发布于四川
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一种半导体双面同时检测的机构.pdf

    本实用新型公开一种半导体双面同时检测的机构，包括两根平行的第一基板移动轨道和第二基板移动轨道，第一基板移动轨道和第二基板移动轨道的滑块上形成半导体放置位，还包括分设于半导体放置为上方、下方的上检测机构和下检测机构，第一基板移动轨道和第二基板移动轨道之间形成检测位；在使用的时候，将半导体产品搁置在第一基板移动轨道和第二基板移动轨道的滑块上，即第一基板移动轨道的滑块上放置半导体产品的第一端，第二基板移动轨道的滑块上放置半导体产品的第二端，当第一、第二基板移动滑轨上的滑块移动的时候，依次或同时经过上检

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215727740 U (45)授权公告日 2022.02.01 (21)申请号 202122156596.2 (22)申请日 2021.09.07 (73)专利权人 宁波轻蜓视觉科技有限公司

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