基于STM32放大电路故障测试仪.docxVIP

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2023-04-23 发布于湖北
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基于STM32放大电路故障测试仪.docx

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长春电子科技学院毕业设计（论文）基于STM32放大电路故障测试仪 Circuit Design of a Simple Amplifier Fault Tester 摘要文章主要讲述了一个简易电路测试仪的设计，主要以STM32为数据处理核心，配合外围DDS信号发生电路，差分放大电路，AD采集电路，液晶显示屏等组成。利用放大法、电阻分压法测量输入电阻，根据输入电阻、输出电阻、输出电压以及增益的变化值来确定电路器件故障的原因。并在液晶显示屏显示