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芯片测试系统及方法.pdfVIP

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  • 2023-04-22 发布于四川
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芯片测试系统及方法.pdf

    本发明提供本发明的至少一个实施例提供了一种芯片测试系统及方法，芯片测试系统，包括多信道天线芯片，多信道天线芯片包括：多个天线切换开关、多个连接垫、多个第一内部测试路径、多个第二内部测试路径和多个外部测试路径，在第一测试模式中，第一个连接垫接收第一测试信号，经过连接垫、第一内部测试路径以及外部测试路径后，由最后一个连接垫产生第一测试结果信号；在第二测试模式中，最后一个连接垫接收第二测试信号，经过连接垫、第二内部测试路径以及外部测试路径后，由第一个连接垫产生第二测试结果信号。本发明通过内部及外部测试

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113933683 A (43)申请公布日 2022.01.14 (21)申请号 202111112199.3 (22)申请日 2021.09.23 (71)申请人 洛晶半导体（上海）有限公司

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