一种存储芯片用低功耗质量检测设备.pdfVIP

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2023-04-23 发布于四川
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一种存储芯片用低功耗质量检测设备.pdf

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本发明涉及质量检测技术领域，且公开了一种存储芯片用低功耗质量检测设备，包括滑道，所述滑道的内壁滑动连接有电路板，所述滑道的前部和后部均固定连接有滑板，所述滑板的上表面固定连接有分离装置，所述滑道的前部设置有收集装置，所述滑道的内壁固定连接有隔板，所述滑道的内壁分别滑动连接有前支撑板和后支撑板，所述滑道的前部和后部分别开设有前出料口和后出料口，所述滑道的内壁固定连接有挡板，所述后支撑板的前部固定连接有卸料弹片，本发明将电路板放入滑道中，通过重力时电路板表面的芯片与挡板撞击，通过芯片的撞击来实现芯片

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113976476 A (43)申请公布日 2022.01.28 (21)申请号 202111264204.2 (22)申请日 2021.10.28 (71)申请人视旗科技（深圳）有限公司