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- 2023-04-24 发布于北京
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本发明公开了一种数据质量校验方法、装置、存储介质及电子设备，该方法包括：获取待校验数据；根据分区表达式确定待校验数据的分区名，所述分区表达式为包含调度时间的函数；根据校验规则以及所述分区名生成校验所需的SQL语句进行数据质量校验。通过实施本发明，将分区名的生成和调度结合起来，也就是说该数据质量校验方法通过规则生成SQL查询语句时，同时也根据分区表达式获得了该校验规则的调度周期，即获得调度的时间，这样通过一个分区表达式即可完成SQL的生成和调度时间的设置，省去了通过脚本进行逐一配置的过程，并且通过
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114020731 A
(43)申请公布日 2022.02.08
(21)申请号 202111302993.4
(22)申请日 2021.11.04
(71)申请人 北京自如信息科技有限公司
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