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本发明公开了一种硅衬底上3C碳化硅材料外延生长方法,选择商业化的硅衬底并清洗;在硅衬底正面涂覆光刻胶,经光刻、显影、坚膜后刻蚀以形成刻蚀道;沉积SiO2填充刻蚀道,并使晶片表面平坦化;使用H2气体高温刻蚀硅衬底结构表面,去除晶片表面损伤层;在外延炉中通入H2气体为载气,并通入碳源气体,对衬底表面进行碳化;在外延炉中通入H2气体为载气,通入硅源气体、碳源气体及掺杂气体,并在高温下反应生成3C碳化硅。本发明相比于传统的4H碳化硅同质外延,在外延生长前预先在硅衬底上形成应力释放结构,降低了外延生长过程
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114038733 A
(43)申请公布日 2022.02.11
(21)申请号 202111118759.6
(22)申请日 2021.09.24
(71)申请人 基本半导体(南京)有限公司
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