基于EEMD-Prophet的电路故障预测方法.pdfVIP

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2023-04-24 发布于四川
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基于EEMD-Prophet的电路故障预测方法.pdf

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本发明提供一种基于EEMD‑Prophet的电路故障预测方法，所述方法包括：利用集成经验模态分解(EEMD)对提取到的电路退化数据进行处理，计算该多个基态分量的能量作为特征提取向量，并将退化过程中的特征提取向量与原始状态下的特征提取向量的马氏距离作为电路的健康评估参数；将健康评估参数划分为训练集和测试集，利用Prophet模型获得电路参数的预测值与置信区间，以实现电路的健康状态评估和故障预测；计算预测值的相对误差，并将其作为预测方法精度的评价指标。本发明方法对模拟电路健康状态预测的效果较好，预测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114035021 A (43)申请公布日 2022.02.11 (21)申请号 202111169837.5 (22)申请日 2021.10.08 (71)申请人北京航空航天大学地址