反光物体表面的三维测量系统及其测量方法和存储介质.pdfVIP

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2023-04-24 发布于北京
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反光物体表面的三维测量系统及其测量方法和存储介质.pdf

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一种反光物体表面的三维测量系统及其测量方法和存储介质。通过获取第一相机拍摄的待测物体的第一图像和第二相机拍摄的待测物体的第二图像，第一图像和第二图像中包含待测物体表面反射的条纹图像；根据第一图像和第二图像，得到第一物点的高度值和梯度值，第一物点为第一相机和第二相机的视野范围的重叠区域中的物点；确定第二物点的第一高度值的初始值为第一物点的高度值，第二物点在第一物点的相邻区域中，第二物点在第一相机和第二相机的视野范围的非重叠区域；基于第二物点的第一高度值的初始值和预设步长进行迭代处理，确定第二物点的

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 114001668 B (45)授权公告日 2022.07.19 (21)申请号 202111300606.3 (51)Int.Cl.