一种内存测试方法和装置.pdfVIP

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2023-04-25 发布于北京
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一种内存测试方法和装置.pdf

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本申请提供一种内存测试方法和装置，该内存测试方法包括利用预设的测试模板对待测试内存进行测试，根据测试结果判断待测试内存为非残次品时，对待测试内存进行综合测试；该综合测试包括：在预设的多类工作环境下对待测试内存中每个颗粒的内存参数进行参数分析，获得待测试内存的第一静态分析测量值；以及当第一静态分析测量值不满足预设的第一标准阈值时，确定待测试内存为残次品，从而采用综合测试来对初筛不为残次品的待测试内存进行进一步的深度质量分析，进而对内存质量进行更准确的评判，从而有效识别并拦截低品质内存。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114064372 A (43)申请公布日 2022.02.18 (21)申请号 202111505051.6 (22)申请日 2021.12.10 (71)申请人曙光信息产业股份有限公司